Вопросы, поставленные на исследование
- Имеются ли в исследуемом системном блоке дефекты, и каков их характер — производственный или эксплуатационный?
- Имеются ли дефекты в SSD-накопителе, входящем в состав системного блока, и каков их характер?
Результаты исследования
Специалисты ЛСЭИ провели техническое исследование системного блока, включающее диагностику компонентов, анализ токопотребления и локализацию неисправности на уровне электронных узлов. Исследование показало, что причиной выхода системы из строя является неработоспособность SSD-накопителя, связанная с дефектом микросхемы ШИМ-контроллера. Дефект проявлялся в полном отсутствии отображения накопителя и критически повышенном токе по линии 5V. Проведённый анализ исключил эксплуатационные факторы — на плате отсутствовали следы механических или термических повреждений, несущих природу неправильного использования. Характер выявленного нарушения однозначно относится к производственным дефектам. Эксперты установили точную область отказа и техническую причину возникновения неисправности, что позволило сформировать объективный вывод о заводском характере дефекта.
